Wynalazek dotyczy systemu mikroskopu skaningowego do formowania obrazu próbki. System składa się z pierwszego układu optycznego przystosowanego do ogniskowania światła wzbudzającego na próbce, powodując tym samym powstanie na próbce co najmniej jednej plamki światła wzbudzającego. Wzbudzająca plamka świetlna powoduje jedno lub więcej wzbudzeń optycznych w próbce. System zawiera również moduł punktowej funkcji rozmycia, przystosowany tak aby powodować, że co najmniej jeden wymiar, np. wymiar poprzeczny plamki światła wzbudzającego na próbce jest mniejszy niż jedna jednostka Airy'ego. Układ zawiera ponadto drugi układ optyczny, przystosowany do ogniskowania światła emisyjnego, wywołanego przez jedno lub więcej wzbudzeń optycznych, na płaszczyźnie obrazowania systemu obrazowania, powodując powstanie co najmniej jednej plamki światła emisyjnego na płaszczyźnie obrazowania. Układ zawiera również układ skanujący przystosowany do przesuwania plamki światła wzbudzającego nad próbką lub przez nią. Ponadto system składa się z systemu ponownego skanowania przystosowanego do przesuwania plamki światła emisyjnego nad płaszczyzną obrazowania systemu obrazowania. System mikroskopu zawiera również moduł kontrolny przystosowany do sterowania systemem skanowania i systemem ponownego skanowania w celu jednoczesnego przesuwania plamki światła wzbudzającego nad lub przez próbkę z pierwszą prędkością (skanowania) i przesuwania plamki światła emisyjnego nad płaszczyzną obrazowania systemu obrazowania z drugą prędkością. Druga prędkość jest większa niż prędkość bazowa, gdzie prędkość bazowa jest zdefiniowana jako pierwsza prędkość (skanowania) pomnożona przez powiększenie optyczne systemu mikroskopu.

Instytut Nenckiego jest współzgłaszającym wynalazek wraz z Uniwersytetem w Amsterdamie pełniącym rolę koordynatora procesów ochrony własności intelektualnej oraz pozyskiwania partnera do komercjalizacji wynalazku.

Jeśli chcesz wiedzieć więcej skontaktuj się z Biurem Transferu Technologii.