Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy FEG (S/TEM) JEOL JEM-F200 CF-CR to zaawansowany transmisyjny mikroskop elektronowy pracujący w trybach TEM (Transmission Electron Microscopy) oraz STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy), wyposażony w źródło elektronów z zimną emisją polową (Cold FEG) oraz nabiegunnik obiektywu typu Cryo, umożliwiający prowadzenie obserwacji w niskich temperaturach (cryo-TEM). Mikroskop pracuje w zakresie 20–200 kV, osiągając rozdzielczość 0,1 nm w TEM oraz 0,2 nm w STEM. System detekcji obejmuje HAADF, BF, BEI oraz spektrometr EDS/EDX (SDD 100 mm²), umożliwiający detekcję pierwiastków od boru (B) do uranu (U) oraz tworzenie wysokorozdzielczych map składu chemicznego. Mikroskop wyposażono także w dwie kamery: Gatan Alpine – kamerę bezpośredniej detekcji elektronów (DDD) oraz Gatan Rio 16 (CMOS).