Mikroskopia
Mikroskop elektronowy Zeiss SBF-SEM SigmaVP 3View
Opis:

Skanujący mikroskop elektronowy o rozdzielczości 32000x32000 pikseli. Technika 3View charakteryzująca się: szybkością cięcia 0.1-1.2mm/s, grubością cięcia: 20 –200 nm praz polem widzenia przy małym powiększeniu: 1.2 x 1.2 mm. Dostępne detektory: InlensSe, BSD, STEM, VSPE. Inne cechy: rozdzielczość 1kV 3024 x 2304px, powiększenie: 12 –1 000 000x, pięcioosiowy zmotoryzowany stolik(x = 125 mm, y = 125 mm, z = 50 mm, t = -10 do 90⁰), tryb wysokiej próżni oraz zmiennej próżni o ciśnieniu od 2 do 133 Pa z regulacją co 1 hP.

Więcej informacji na stronie własnej laboratorium.

Akcesoria:

Zautomatyzowany stolik Zeiss SEM
Manualny stoli Gatan 3View

Możliwe formy współpracy:
Użycie mikroskopu z asystą, w cenniku godzinowym. Terminy należy uzgadniać z wyprzedzeniem, przy większych projektach projektach wycena indywidualna.
Kontakt:

Dr Jędrzej Szymański
j.szymanski@nencki.edu.pl